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1在功放測試中對測試指標造成失真
1.1增益a、在同樣的功放中采用不同的測試信號進行測試,會出現收入信號頻率一定、功率一定采用不同的信號類型輸入信號(CDMA、正玄波、矩形波、GSM、WCDMA、TD-SCDMA、CDMA-EVDO等)時,功放單元表現出來性能指標不同,其中增益變化最為明顯,線性度和ACPR變化也存在波動,但不是很明顯。功放的放大增益會出現±1.5dB內的波動范圍,因此在無線功放的設計測試中必須嚴格按照信號類型進行仿真測試。b、受溫度影響功放增益變化最為突出,因此測試時必須放在散熱臺上進行測試,測試前必須預熱3~5分鐘后確保功放溫度達到常規工作溫度下,方可進行正常測試。
1.2ACPR在ACPR指標測試時多個功放同事進行該指標測試時,會出現ACPR值過高,更有甚者功放出現自激現象。在加大功放間距或功放單獨測試時ACPR值正常,自激現象消失。經過功放無線信號輻射仿真測試分析,自激現象的出現和ACPR指標惡化原因為功放的測試干擾來自于臨近測試功放的三階以后交調未消除引起。針對該現象,加強功放各單元的金屬屏蔽腔體密封設計和改善濾波電路濾波效果后,該問題解決。原因,功放在設計時會將會將二階交調三階交調通過濾波器濾除,但三階交調以后的交調信號主要依靠LC、∏型濾波來實現,但由于工藝材質、安裝存在差異性,型濾波電路往往是在調試工程中二次增加。因此選擇合適的濾波電路至關重要。
2維修中隔離器失效驗證性測試
使用1~2年后射隔離器損壞多發。由隔離器失效引起功放功率和增益降低,直接導致BTS扇區無覆蓋信號,后果嚴重。隔離器失效機理,主要原因是磁鐵材料選材問題,確切的說是釹鐵硼磁鐵(NdFeBMagnet)退磁,導致隔離器(環行器)失效。取新購置25只隔離器,作溫度和濕熱試驗,觀察變化趨勢。將五周環境試驗后測試數據與常溫測試數據比較。結論:盡管S21變化很小,統計數據分析,P-Value=0.003<0.055周以后測試與常溫測試結果有顯著不同,插損變大,說明隔離器普遍惡化。性能評估正態性檢驗見圖5結論:P-Value=0.144>0.05正態檢驗接受原假設。從看總體上,S21測試數據是正態分布。
3結論
隔離器有顯著惡化趨勢。經過進一步老化時間持續,惡化持續遞增。
作者:楊寶雄李長星單位:西安石油大學