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    半漏磁冷場電鏡觀測鐵磁性材料的路徑范文

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    半漏磁冷場電鏡觀測鐵磁性材料的路徑

    摘要:冷場發射掃描電鏡一般采用半漏磁物鏡設計和in-lence探頭相結合的技術成像,以提升圖像質量。漏磁場極容易造成對磁性樣品的吸附而損傷物鏡,致使冷場發射掃描電鏡不適用于磁性材料的觀測;并且利用觀測普通材料的實驗參數也無法獲得理想圖片。通過設計新型樣品臺,同時改良實驗參數和操作方法,突破了冷場掃描電鏡對磁性材料限制。

    關鍵詞:冷場掃描電鏡;半漏磁物鏡;鐵磁性掃描

    電子顯鏡(scanningelectronmicroscope,SEM)具有高分辨和圖像直觀等特點[1],自其誕生至今已有幾十年,應用范圍非常廣泛,也是冶金與材料學科常用的研究手段。眾所周知,材料的性能取決于其微觀顯微組織結構[2],而掃描電子顯微鏡核心功能就是微觀形貌的觀測與記錄,因而在材料相關研究領域占有重要地位。近年來,微納米尺度材料的性能研究已成為人們關注的焦點[3]。場發射掃描電子顯微鏡,作為掃描電子顯微鏡發展歷史上的第三代(按燈絲材質區分:第一代鎢燈絲電鏡,第二代六硼化鑭/六硼化鈰燈絲電鏡)電鏡,隨納米材料的研究熱潮發展起來。與普通掃描電鏡不同的是:場發射掃描電鏡(FE-SEM)采用高亮度場發射電子槍,其原理是高電場使電子的電位障礙產生Schottky效應,得極細而又具高電流密度和高單色性的電子束。由于場發射電子束亮度可達熱游離電子槍的數百倍,甚至千倍,因而可以獲得高分辨率的高質量二次電子圖像,極大提升了掃描電鏡的成像效果和分辨率。一般可用來觀察和檢測非均相有機材料、無機材料及微米、納米材料樣品的表面特征,是納米材料粒徑測試和形貌觀察有效儀器。按照燈絲工作溫度,場發射掃描電鏡區分為冷場掃描電鏡和熱場掃描電鏡兩大類。冷場發射式掃描電鏡最大的優點為:電子束直徑小,亮度高,能量散布小,因此影像分辨率優,尤其能改善在低電壓觀察成像效果。但由于其束流較弱且不穩定,許多公司(包括日本電子,日立等)生產的冷場掃描電鏡均采用半漏磁式物鏡設計,同時還包括一部分熱場掃描電鏡,即在物鏡下方留一個環形缺口,讓里面線圈的磁場通過環形缺口暴露出來,使被觀測樣品處于磁場中。其目的在于可以加速樣品表面產生的能量微弱的二次電子,使其能被物鏡上方的In-lense探頭接收到,從而提升圖像質量。但物鏡強大的裸露磁場極容易造成對鐵磁性樣品的吸附而損傷物鏡,致使冷場發射掃描電鏡不適用于鐵磁性材料的觀測;同時樣品如果自身帶有磁場,則兩磁場疊加,會干擾二次電子運行軌跡,使圖像質量變差。已知文獻報道中,尚未發現使用冷場掃描電鏡對鐵磁性樣品觀察得到高清圖片的先例。本文針對冷場掃描電鏡這一局限性進行研究,目的在于實現對鐵磁性材料獲得高質量二次電子像的途徑。

    1實驗

    1.1實驗設備

    本文所涉及實驗設備為日本電子生產冷場掃描電鏡,型號JSM-6701F,冶金與生態工程學院實驗中心2010年購置并投入使用,隨機配備兩個樣品臺以及若干圓形銅柱。由于直徑大小不同,最大承載能力分別為3個和1個直徑為10mm標準試樣,沒辦法同時承載和觀測更多試樣。這種樣品臺的設計主要缺點有4點:(1)對樣品的數目和尺寸,形狀有較大限制,給樣品的制備帶來了較大的難度;(2)不能裝載多個樣品,承載能力有限,觀察多個樣品時需要頻繁更換樣品,重新抽真空,耗時耗力,觀測效率較低;(3)樣品臺固定螺釘少而短(分別是2個和1個),固定效果比較差。(4)使用一段時間之后,樣品臺自身產生的微小變形使得銅柱更加不容易置入,給使用造成更大困難。1.2實驗原料在北科大冶金與生態工程學院,最為常見鐵磁性的研究對象是各種鐵合金,本實驗所用樣品取自不同組織成分的鋼坯。為減小樣品制備方式不同對實驗結果的影響,在相同條件下對不同材質的樣品進行了統一制備:首先進行線切割,此處試樣制作成10mm×10mm×7mm的試樣,觀察面拋磨處理成鏡面后,一般用2%~4%的硝酸酒精或其他酸性試劑(組織不同所需試劑不同)侵蝕5~30s(不同類組織所需最佳侵蝕時間不同),在光鏡下觀察到晶界出現以保證侵蝕效果;之后用消磁機進行消磁預處理,消掉其可能存在的自帶磁場,即得到實驗所需試樣。

    2實驗結果與討論

    在長期使用JSM-6701F冷場掃描電鏡進行鋼樣觀察的過程中,發現主要有兩個需要改善的問題:(1)樣品的承載和固定問題;(2)樣品的觀測方法。

    2.1自主研發新式樣品臺

    經過長期摸索,多次試驗和改良,設計制作了一種新型樣品臺(如圖3所示)。樣品臺包括主體、樣品槽、長螺釘、黃銅墊片和固定頭,如圖3a所示;樣品臺采用黃銅制作,以確保自身良好的導電性,如圖3b所示。主體上設有兩個長條形樣品槽,槽壁上的多個長螺釘固定樣品,以保證一定尺寸范圍內薄片到塊狀樣品均能被固定牢固,且樣品形狀不限。樣品通過長螺釘的旋轉固定在樣品槽內,樣品大小不同,螺釘擰進距離長短隨之不同,但都可以起到牢固固定的效果,實現成批量樣品的可靠固定;金屬樣品直接接觸連接,較少使用導電膠,確保了樣品更好的導電性;同時減少了樣品進入樣品倉后重新抽真空的時間。特別是針對樣品是鐵磁性材料的情況,可以有效防止半漏磁物鏡吸附樣品,避免了物鏡受到物理損壞的風險。

    2.2結果分析

    在掃描電鏡觀測中,一幅高質量的圖像應該滿足3個條件:第一是電鏡本身分辨率高,顯微結構清晰可辨;第二是襯度適中,圖像無論在黑區還是白區中的細節都能看清楚;第三是信噪比好,沒有明顯的雪花狀噪聲[4]。對于導電性良好的普通材料,冷場電鏡一般采取低電壓進行圖像觀測(5kV),采取6~8nm的較小束流直徑和<8mm的較小工作距離,以獲得最佳圖像效果。但在此條件下,鐵磁性樣品圖像普遍質量不佳。

    2.2.1觀測參數的影響使用自行設計的樣品臺,夾持樣品后,在多次調試過程中發現,通過適當改變實驗參數可以優化觀測效果。增加工作距離WD至100~120mm,采用中等加速電壓(5~15kV)參數下觀測,并適當提升束流直徑(probecurrent)到9~11nm可得到最大20×104倍以上清晰照片。參考此型號電鏡最大理論放大倍數為65×104倍,普通材料在導電性好的情況下得到的最佳觀測效果也如此。同時,為避免在高倍圖像拍攝過程中偶爾出現的毛刺現象,可以采取幀疊加模式進行拍攝,實驗結果顯示圖片質量與非磁性材料獲得的最佳觀測效果并無差別。工作距離加大后,物鏡磁場對樣品的影響減小,較高的電壓和較大的束流保證了入射電子束能量較大,從而產生的二次電子信號也增強,但繼續增加束斑直徑則降低了電鏡分辨率,因為二次電子像的分辨率約等于束斑直徑。工作電壓繼續增加,一定程度上會帶來圖片噪點增加,即電鏡的信噪比加大,圖像質量有損失,若想獲得最佳成像效果,電壓一般不超過15kV。

    2.2.2不同金相組織的影響在相同的實驗條件和電鏡參數下,不同金相組織的鋼樣所能得到的最佳觀測效果有較大區別。通常,貝氏體、珠光體鐵素體組織能得到更高倍數的清晰圖片,在保持同等圖片質量的前提下,奧氏體,馬氏體組織只能得到較低倍數的清晰圖片。材料的晶格結構決定了其電子結構和電學性質[5]。從而決定了不同的二次電子產率。這也符合掃描電鏡成像規律。即:樣品自身二次電子產率對圖片效果影響較大。不同組織鋼樣差別較大,二次電子產率也有區別。

    2.2.3不同取樣方向的影響鋼坯經過軋制處理后取樣,一般有垂直于軋向和平行于軋向兩個取樣方向。同一鋼坯分別在上述兩個方向分別取樣,經過相同的表面處理方式后觀察,得到的觀測效果也不同。結果顯示:垂直于軋制方向取樣,得到的圖片效果優于平行于軋制方向的觀測效果。對于鐵磁性材料,磁場方向對于觀測的影響應予以考慮,兩個方向所取得的試樣,最大差別在于其磁場方向相差90°,與物鏡磁場疊加作用的效果,對二次電子運動軌跡的改變效果不同,從而造成成像效果的差異。垂直于軋向取樣時,樣品磁場方向與物鏡裸露出的磁場方向一致,二者疊加,加強了原有磁場,使其對二次電子加速作用增強,從而使得圖像效果優化;取樣方向平行于軋向時,樣品磁場與物鏡裸露磁場成正交狀態,擾亂原有磁場,減弱其對二次電子加速作用,從而影響圖像效果。

    2.2.4長期觀測磁性材料不會對電鏡產生不良影響2014年底開始使用冷場電鏡觀測磁性材料,由于研究環境所決定,幾乎每天都有鐵磁性樣品用于觀察分析。至今為止三年多時間內,從電鏡對各種材料的觀測效果看,解決好固定問題后,鐵磁性材料的觀測不會降低冷場電鏡分辨率,造成不良影響。

    3結論

    本文作者根據自身所處研究環境的研究需求,改良現有設備,開發儀器新功能,提升了實驗效果和效率。設計的新型樣品臺增加了載物空間,降低了制樣要求,滿足了磁性材料的固定需求,并且提升了實驗效率,擴大了適用范圍。通過對樣品消磁,對加速電壓,工作距離等參數的優化設定,并在高倍下使用幀疊加的拍攝模式,可以提升鐵磁性材料的觀測效果,得到>20萬倍的清晰照片,這對于觀察鋼樣中納米級第二相是個有利的方法。不同種類,成分和組織的鋼樣成像效果差異較大,效果從高到低次序如下:貝氏體〉珠光體鐵素體>馬氏體/奧氏體。軋制后的同類鋼種取樣方向不同,成像效果差異也較大:垂直于軋向的截面優于沿著軋向的截面。經過三年多的時間對鐵磁性樣品的觀測與實踐,電鏡狀態良好,拍攝效果不受影響,分辨率沒有下降,證明這種實驗方法對掃描電鏡沒有損傷。

    參考文獻:

    [1]張國云,張雯婷,姚娟妮,等.不同處理條件下集中松樹花粉的掃描電鏡觀察[J].電子顯微學報,2015,35(1):49-51.

    [2]張劍飛,毛圣成,張澤,等.透射電子顯微鏡原位原子尺度熱力耦合實驗平臺[C].電子顯微學報,2017(增刊):9.

    [3]張丹利,劉博宇,單智偉.一種用于TEM下原位力學加載工具的加工方法[C].電子顯微學報,2017(增刊):18-19.

    [4]張大同.掃描電鏡與能譜儀分析技術[M].廣州:華南理工大學出版社,2009:47.

    [5]何林.石墨烯中新奇量子衍生物態研究[C].電子顯微學報,2017(增刊):46.

    作者:程錦1;2;王福明1;宋波1;張立峰1;袁建忠2;陳青山2 單位:1.北京科技大學冶金與生態工程學院,2.捷歐路(北京)科貿有限公司

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